一、Wide Laser Beam Imager
Ophir 寬光束成像儀附件是一種緊湊、經過校準的光學系統，用于測量 VCSEL、LED、邊發射激光器和光纖激光器的大光束和發散光束的尺寸和功率分布。它采用 45 毫米擴散板，光源發出的光束投射到該擴散板上。然后，該圖像縮小 8 倍，并重新成像到相機焦平面上。VCSEL、LED 和光纖激光器用于許多敏感應用。為了保證設備的高質量，必須分析光束輪廓，但這些寬而發散的光束對測量系統提出了特定要求：
● 傳統光束分析儀的孔徑太小，無法收集大型或發散光源的整個光斑。
● 常規探測器無法準確測量發散光束，因為探測器的量子效率高度依賴于入射角。WB-I 緊湊、堅固且便攜的設計使客戶能夠在現場對 VCSEL 和 LED 系統進行光束分析，以及在生產線和研發實驗室進行操作。
● 與標準光束輪廓儀傳感器的 15° 相比，由于可以進行高達 70° 的角度測量，發散光束測量得到了顯著改善。
● WB-I 附件與相機和 BeamGage 軟件配合使用，可提供實時光束形狀分析。可以輕松檢測到由于不同電流而導致的光束形狀變化。
● 通過一組可互換的濾光片或光圈，可變衰減能夠測量不同發射功率的各種光源。
二、規格參數
| 型號 | WB-I SWIR |
| 光束尺寸 | 10-45 mm |
| 光譜范圍 | 900-1700 nm |
| 有效面積 | ?45 mm |
| 最大平均功率 | 50W（CW） |
| 入射角 | <70° |
| PN碼 | SP90605 |
三、應用
用于以下領域的研發、生產和服務：數據電信、汽車、遙感、人臉和手勢識別
典型測量：遠場能量分布、發散、LIV 掃描測試 VCSEL(光束輪廓與電流 (A))
四、應用示例
VCSEL 能量分布直接取決于電流、脈沖寬度和重復率以及器件溫度等參數。因此，在制造過程的各個階段以及研發和現場服務中測量 VCSEL 的角度分布至關重要。LIV 掃描測試中的 VCSEL 行為：當僅施加低電流時，VCSEL 處于所謂的“LED 模式"。一旦施加到 VCSEL 的電流上升，其光束輪廓就會變為“激光模式"：
高分辨率寬光束成像儀WB-I
高分辨率寬光束成像儀WB-I
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