產品介紹

BeamPeek™ 系統可進行實時光束輪廓分析，包括焦點尺寸和位置監控，以及綠光和近紅外范圍內增材制造 (AM) 激光器的光束焦散和功率測量。它跟蹤這些參數隨時間的變化，以幫助維護制造部件的質量和可重復性。BeamPeek™ 集成了激光光束輪廓儀相機、功率計、光束收集器、光束分束器和光學器件，為工業環境中的增材制造激光分析提供全包解決方案。

BeamPeek™ 軟件專為滿足增材制造行業現場技術人員的需求而開發。它可以用最少的用戶輸入測量增材制造的基本參數。

BeamPeek 可在 1kW 功率下進行長達 2 分鐘的連續測量，并采用被動冷卻，無需風扇或通過可互換光束收集盒進行水/空氣冷卻。其工業設計使其易于集成到生產線中并進行激光特性分析，而不會干擾生產過程。

產品參數

產品名稱 ： BeamPeek

光譜范圍 ： 532 nm, 1030-1080 nm

最小光斑尺寸 ： 34.5 µm

功率范圍 ： 10-1000 W

焦距 ： 150-800 mm

功率計校準 ： NIST traceable calibration ±3%

光束輪廓 ： ISO 11146 Measurements

CE 符合性 ： Yes

UKCA 符合性 ： Yes

中國 RoHS 符合性 ： Yes

軟件

BeamPeek

BeamPeek 軟件旨在滿足增材制造領域技術人員的需求。它為增材制造行業提供符合 ISO 標準的光束焦散和功率測量的關鍵參數分析。

BeamPeek 工具

BeamPeek 溫度傳感器讀數、焦平面和光軸位置的軟件

常見問題

1、相機傳感器/焦平面位于哪里?

與 BeamCheck 不同，BeamCheck 的焦平面設置使得當激光焦點位于床面時，相機傳感器處于焦點中，而 BeamPeek 相機傳感器距離底座/機床約 70 毫米(每個設備的準確值單獨校準)。要使光束聚焦在相機傳感器上，機床必須向下移動校準值。這種設置的原因是改進了功率處理：更高的最大功率和更長的高功率曝光時間。

2、BeamPeek 需要定期校準嗎?

是的，因為 BeamPeek 包含 Ophir 常規功率計。

3、如果功率值高于或曝光時間超過允許的最大值，BeemPeek 會受到嚴重損壞嗎?我如何知道設備是否損壞?

BeamPeek 在設計時考慮到了過載、功率或曝光時間等因素;如果超出了建議值，客戶除了可以進行功能測試外，還可以進行簡單的目視檢查：拆除光束轉儲托盤、檢查保護窗的清潔度(可以拆除并清除由于功率密度非常高或曝光時間過長而產生的排氣)、拆除并檢查擴散可互換鏡頭，并在拆除鏡頭的情況下透過系統光圈查看，以驗證光學器件的完整性(以免功率過高)。

4、獲取功率測量結果的最短等待時間是多久?

對于帶有熱頭的功率計，功率測量的最短響應時間為 3 秒。

5、如果使用 NIR 激光波長 1070nm，則應選擇哪個 PM 波長進行測量 1064nm 還是 1080nm?

選擇接近激光波長的波長，在這種情況下 1064 比 1080 更接近。

高功率光束分析儀和功率測量系統BeamPeek

高功率光束分析儀和功率測量系統BeamPeek